序号 | 检测内容 | 检测方式 | 是否可检 | 备注 |
1 | 印字面沾异物 | 正面环形光源检测 | 可检 |
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2 | 沾银、扩散 | 正面环形光源检测 | 可检 | |
3 | 印银方向反 | 正面环形光源检测 | 可检 | |
4 | 裂纹、崩缺 | 正面环形光源检测 | 可检 |
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5 | 印银、电镀不良 | 正面环形光源检测 | 可检 |
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6 | 黑边 |
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不可检 | 特征不可见 |
注明:电子元件光学筛选机,均需在影像下清晰可见才能检测。检测效率:每分钟检测数量 不低于200件(取决于产品送料速度)。
序号 | 部件名称 | 规格型号 | 数量 |
1 | 视觉检测软件 | SIPOTEK | 1套 |
2 | 工业电脑 | SIPOTEK定制 | 1套 |
3 | 显示器 | PHILIPS 19”液晶显示器 | 1台 |
4 | 工业相机 | Barsler工业相机 | 2套 |
5 | 相机调节模组 | SIPOTEK定制 | 2套 |
6 | 工业镜头 | FA高清光学工业镜头 | 2套 |
7 | 光源 | 定制光学自适应光源 | 2套 |
8 | 检测平台 | 专业光学玻璃载台 | 1套 |
9 | 伺服电机 | 松下·PANASONIC | 1套 |
10 | 控制系统 | SIPOTEK定制 | 1套 |
11 | PLC运动协作 | 松下·PANASONIC | 1套 |
三、样件测试图片:
顶部正光检测良品原图:
顶部正光检测良品分析图:OK
顶部正光检测不良品分析图:NG 不良特征:电镀不良
顶部正光检测不良品分析图:NG 不良特征:印银不良
顶部正光检测不良品分析图:NG 不良特征:崩缺
顶部正光检测不良品分析图:NG 不良特征:中柱卡异物
顶部正光检测不良品分析图:NG 不良特征:缺银
底部正光检测良品分析图:OK
底部正光检测不良品分析图:NG 不良特征:沾银
底部正光检测不良品分析图:NG 不良特征:印银方向反
底部正光检测不良品分析图:NG 不良特征:裂纹
底部正光检测不良品分析图:NG 不良特征:印字面异物
四、系统安装要求:
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