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电子元件光学筛选机筛选产品缺陷方案!
发表时间:2020-02-28 14:28
一、检测内容及要求
 
检测内容:
       产品的外观检测

序号 检测内容 检测方式 是否可检 备注
1 印字面沾异物 正面环形光源检测 可检
 
2 沾银、扩散         正面环形光源检测 可检
3 印银方向反         正面环形光源检测 可检
4 裂纹、崩缺 正面环形光源检测 可检
 
5 印银、电镀不良 正面环形光源检测 可检
 
6 黑边
 
不可检 特征不可见

注明:电子元件光学筛选机,均需在影像下清晰可见才能检测。检测效率:每分钟检测数量 不低于200件(取决于产品送料速度)。

二、设备组成及主要机构
 
设备型号:SP-T300标准检测设备          外形尺寸:900*800*1850mm
         组成部件清单:
序号 部件名称 规格型号 数量
1 视觉检测软件 SIPOTEK 1套
2 工业电脑 SIPOTEK定制 1套
3 显示器 PHILIPS  19”液晶显示器 1台
4 工业相机 Barsler工业相机 2套
5 相机调节模组 SIPOTEK定制 2套
6 工业镜头 FA高清光学工业镜头 2套
7 光源 定制光学自适应光源 2套
8 检测平台 专业光学玻璃载台 1套
9 伺服电机 松下·PANASONIC 1套
10 控制系统 SIPOTEK定制 1套
11 PLC运动协作 松下·PANASONIC 1套
电子元件光学筛选机外观3D立体图
电子元件光学筛选机
三、样件测试图片:
顶部正光检测良品原图:

电子元件光学筛选机

顶部正光检测良品分析图:OK 

电子元件光学筛选机

顶部正光检测不良品分析图:NG         不良特征:电镀不良

电子元件光学筛选机

顶部正光检测不良品分析图:NG         不良特征:印银不良

电子元件光学筛选机

顶部正光检测不良品分析图:NG         不良特征:崩缺

电子元件光学筛选机

顶部正光检测不良品分析图:NG         不良特征:中柱卡异物

电子元件光学筛选机

顶部正光检测不良品分析图:NG         不良特征:缺银 

电子元件光学筛选机

底部正光检测良品分析图:OK

电子元件光学筛选机

底部正光检测不良品分析图:NG         不良特征:沾银

电子元件光学筛选机

底部正光检测不良品分析图:NG         不良特征:印银方向反  

电子元件光学筛选机

底部正光检测不良品分析图:NG         不良特征:裂纹

电子元件光学筛选机

底部正光检测不良品分析图:NG         不良特征:印字面异物

电子元件光学筛选机

四、系统安装要求:
设备放置的检测空间:  安装思普泰克视觉检测系统的标准检测设备,需要保证有足够的空间以安装设备。
 
环境温度: 0-50摄氏度;
空气湿度: 90% RH以下;
电子干扰: 为设备提供电子干扰较小的地方。
电源:        交流220V,50Hz,  耗电<1KVA。
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检测视频

DETECTION ViDEO

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